Bu cihaz Türkiye'de ilk defa üretildi

Fırat Üniversitesi Fizik Bölümü Öğretim Üyesi Prof. Dr. Fahrettin Yakuphanoğlu, Türkiye'de ilk kez 'Solar Simülatör ve Spektral Foto İletkenlik ve Kuantum Verimlilik' cihazlarının üretimini yaptıklarını söyledi.

Bu cihaz Türkiye'de ilk defa üretildi
TAKİP ET Google News ile Takip Et

Türkiye'de güneş enerjisi alanında yeni kurulan şirketler ve üniversitelerin araştırma laboratuvarlarında ihtiyaç duyulan Solar Simülatör ve Spektral Foto İletkenlik ve Kuantum Verimlilik Cihazları, Fırat Üniversitesi Teknokent bünyesinde üretildi. Fen Fakültesi Fizik Bölümü Öğretim Üyesi Prof.Dr. Fahrettin Yakuphanoğlu, cihazların üretimini başarılı bir şekilde tamamladıklarını belirterek, cihazların seri üretimine Fırat Üniversitesi Teknokent bünyesinde devam edildiğini aktardı.

Bu tür cihazların elektronik teknolojisinde, enerji uygulamalarında ve bilimsel araştırmalarda çok ihtiyaç duyulan cihazlar olduğunu ifade eden Prof. Dr. Yakuphanoğlu, "Bu cihazlar yurt dışından ciddi maliyetlerle satın alınıyor. Fırat Üniversitesi'nde üretilen cihazların satış bedeli yarı fiyatına alacak. Solar Simülatör ve Spektral İletkenlik-Kuantum Verimlilik Cihazları, güneş pili ve panellerin verimliliklerinin belirlenmesi ve elektriksel karakterizasyonu, metal-yarı iletken diyotların elektriksel ve foto iletkenlik özellikleri, PN eklem yarı iletkenlerin elektriksel ve foto iletkenlik özelliklerinin karakterizasyonu, Fotodedektörlerin spektral özelliklerinin belirlenmesi, farklı aydınlanma şiddetleri ve dalga boylarında I-V, C-V, G-V, -V, Rs-V, I-t, c-t gibi ölçümler, Photoakım ölçümleri, Fotokapasitör ölçümler, Arayüzey durum yoğunluğunun belirlenmesi, Fotodiyotların foto iletkenlik ve fotovoltaik özelliklerinin belirlenmesi, Fototransistörlerin elektriksel karakterizasyonu, Fotosensörlerin elektriksel özelliklerinin belirlenmesi gibi birçok kullanım alanına sahiptirler. Solar simülatörlerimizi AAA, ABA ve ABB class olarak bilgisayar kontrollü üretebilmekteyiz. Spektral Photoresponse Cihazı ise dalga boyu 400 nm-bin 100 mm aralığında değişebilmektedir. Elektronik devre elemanlarının spektral özelliklerinin bilgisayar kontrollü olarak yapabilmektedir" dedi.